香川大学

ナノ計測・評価システム

超薄膜評価装置 JEM-3010
電子線励起発光分析装置 JED-2300T
利用目的
材料物性研究の極微細構造評価に必須の装置
先端鉄鋼材料・ナノ量子構造・生体材料の開発・評価に活用中
仕様
・JEM-3010
 加速電圧300kV, 分解能0.2nm, 最大倍率120万倍,
 Beホルダー(EDS用), He冷却ホルダー, SSCCD
・JED-2300T
 Bより重い元素の化学分析
取得年月日
平成16年2月27日
耐用年数
5年
設置場所
工学部1号館1階分析機器室
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